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SANKO三高 電磁測厚儀膜厚計(jì) TL-50 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測量。

SANKO三高 SL-200E 高性能電磁涂層膜厚儀 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測量。

SANKO三高 SL-5P 電磁模擬涂層膜厚儀 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測量。

SANKO三高 SL-120C 電磁多級(jí)測厚儀 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測量。

SANKO三高 Pro-W 電磁涂層厚度計(jì) 新型雙探頭 具有自動(dòng)（智能）設(shè)置，為您提供輕松簡便的操作：探頭SFN-325可與SWT-7000Ⅳ系列（7000Ⅳ、7200Ⅳ）一起使用，用于Fe和NFe金屬基材的測量。