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全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接觸卡評估裝置

簡要描述：全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接觸卡評估裝置
測量ISO14443中規(guī)定的非接觸式IC卡的能力。
通過自由改變來自讀寫器的信號，
我們明確了可以容納射頻強度、調(diào)制深度、頻率、調(diào)制定時等的范圍。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 傳輸信號的特性

  • 產(chǎn)品型號：T8300-MkⅡ
  • 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
  • 更新時間：2024-08-06
  • 訪  問  量：178
詳情介紹

全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接觸卡評估裝置

全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接觸卡評估裝置

所有非接觸式 IC 卡都“符合 ISO14443"，讓您 

測量ISO14443中規(guī)定的非接觸式IC卡的能力。
通過自由改變來自讀寫器的信號，
我們明確了可以容納射頻強度、調(diào)制深度、頻率、調(diào)制定時等的范圍。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 傳輸信號的特性。

*與 A 型、B 型和索尼 FeliCa（C 型）兼容。

（注）“FeliCa"是索尼公司的注冊商標(biāo)。

同時測量的數(shù)量為2至32個通道，一次測量所需的時間僅為0.15秒。

它實現(xiàn)了大規(guī)模生產(chǎn)現(xiàn)場所需的高吞吐量和性價比，

非常適合表面貼裝片材產(chǎn)品和卷材產(chǎn)品（例如預(yù)層壓嵌體和 RFID 天線）的 100% 檢測。

此外，我們還支持質(zhì)量穩(wěn)定的IC卡和標(biāo)簽的發(fā)貨。


我們還接受定制檢測頭的請求，以匹配要測量的線圈設(shè)計。

緊湊的設(shè)計允許集成到芯片安裝機等生產(chǎn)設(shè)備中。

當(dāng)并入生產(chǎn)線時，可以通過I/O輸出1CH至32CH的PASS/FAIL判斷。



規(guī)格
基本功能
輪詢功能
波形監(jiān)視功能
功能功能
負載調(diào)制
強電場應(yīng)用
APD 編輯
波形測量觸發(fā)設(shè)置功能
電氣特性
工作頻率范圍的評估
基于磁場上升時間的啟動可用性
評估 使用可變啟動時間的
評估 工作磁場強度范圍的評估 工作
調(diào)制度范圍的評估
允許的字符間距的
評估 允許的 SOF 時序
的評估 允許的 EOF 時序的
評估 基于調(diào)制等級的可變到達時間
最小響應(yīng)時間等
系統(tǒng)配置
T8300主機/PC/顯示器
實時頻譜分析儀或數(shù)字示波器
電源
AC100V15A


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